분석 서비스

Stanford Advanced Materials (SAM)는 치수 검사, 전기 전도도 테스트 및 입자 크기 결정을 포함한 포괄적인 분석 서비스를 제공합니다. 당사의 첨단 실험실에는 GDMS, ICP-MS, ICP-OES와 같은 테스트를 위한 최첨단 장비가 갖추어져 있습니다.

또한 SEM, TEM 및 X선 회절(XRD) 분석을 이용한 기계적 특성 테스트를 제공하여 재료 거동에 대한 정확한 통찰력을 제공합니다. 품질과 정확성에 대한 헌신으로 SAM은 신뢰할 수 있는 테스트 및 분석 서비스를 제공하는 신뢰할 수 있는 파트너입니다.

전체 서비스 목록

치수 검사

치수 검사는 정확한 사양을 충족하도록 부품 치수를 정밀하게 측정하고 검증합니다.

전기 전도도 테스트

전기 전도도 테스트는 재료가 전류를 전도하는 능력을 측정하여 전기 애플리케이션에서 최적의 성능을 보장합니다.

GDMS

GDMS(글로우 방전 질량 분석법)는 품질 관리 및 재료 검증을 위해 미량 및 벌크 원소를 감지하여 고체 재료의 정밀한 원소 분석을 제공합니다.

입자 크기 결정

입자 크기 결정은 재료의 미세 구조를 분석하여 재료의 강도와 성능에 영향을 미치는 입자 크기를 평가합니다.

ICP-MS

ICP-MS(유도 결합 플라즈마 질량 분석법)는 다양한 물질의 미량 원소를 검출하고 정량화하는 데 사용되는 매우 민감한 기술입니다.

ICP-OES

ICP-OES(유도 결합 플라즈마 광 방출 분광법)는 광 방출을 통해 시료의 여러 원소를 정밀하게 검출하고 분석하는 데 사용되는 기술입니다.

기계적 특성

기계적 특성 테스트는 재료의 강도, 탄성, 경도 및 내구성을 평가하여 성능 요구 사항을 충족하는지 확인합니다.

SEM

SEM(주사 전자 현미경)은 정밀한 구조 분석을 위해 고배율로 재료 표면의 상세한 이미지를 제공합니다.

TEM

TEM(투과전자현미경)은 심층 분석을 위해 원자 수준에서 재료 구조의 고해상도 이미지를 제공합니다.

X선 회절(XRD) 분석

X선 회절(XRD) 분석은 재료의 결정 구조를 파악하여 상 구성 및 재료 특성에 대한 통찰력을 제공합니다.

*당사 제품을 구매하는 고객에게는 1. 가격 할인 2. 신속한 서비스 등의 혜택이 제공됩니다.

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