CY9489 300mm P형(B-도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100옴-cm

카탈로그 번호.	CY9489
재료	Si
모양	디스크
양식	기판

300mm P형(B 도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100 ohm-cm은 제어된(100) 결정학적 배향으로 반도체 테스트를 위해 생산된 실리콘 기판입니다. Stanford Advanced Materials (SAM)는 엄격한 붕소 도핑 요법과 고해상도 이미징을 포함한 인라인 결함 평가 기술을 사용하여 1 ~ 100 옴-cm의 저항 값을 확보합니다. DSP 처리는 정밀한 전기적 성능 평가에 필수적인 표면 결함을 더욱 최소화합니다.

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사양	세부 정보
재질	실리콘
성장 방법	CZ
방향	<100>
치수	Dia. 300 mm x 0.775 mm
유형 / 도펀트	P / 붕소
표면 마감	양면 광택
전기 저항	1-100 옴-cm

CY9489 300mm P형(B-도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100옴-cm

300mm P형(B-도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100옴-cm 설명

300mm P형(B-도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100옴-cm 애플리케이션

300mm P 타입(B-도핑) 실리콘 웨이퍼 기판 테스트 등급(100), DSP, 1-100옴-cm 패킹

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